英语缩略词“SIMS”经常作为“Secondary Ion Mass Spectrometer”的缩写来使用，中文表示：“二次离子质谱仪”。本文将详细介绍英语缩写词SIMS所代表英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外，还有关于缩略词SIMS的分类、应用领域及相关应用示例等。

“SIMS”（ 二次离子质谱仪 ）释义

• 英文缩写词：SIMS
• 英文单词：Secondary Ion Mass Spectrometer
• 缩写词中文简要解释：二次离子质谱仪
• 中文拼音：èr cì lí zǐ zhì pǔ yí
• 缩写词流行度：584
• 缩写词分类：Miscellaneous
• 缩写词领域：Unclassified

以上为Secondary Ion Mass Spectrometer的英文缩略词SIMS的中文解释，以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

英文缩略词SIMS的扩展资料

The FTE SAMs was characterized by the time-of-fpght secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS ), atomic force microscopy ( AFM ) and contact angle measurement, and the tribology properties of the FTE SAMs were measured by the Olympus head / disk interface repabipty measurement system.
应用时间飞行二次离子质谱仪(SIMS)（TOF-SIMS）、原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对FTE自组装膜进行表征。通过Olympus磁头磁盘界面可靠性测试系统对FTE自组装膜的摩擦学性能进行研究。

A time-of-fpght secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS ), X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ), an atomic force microscopy ( AFM ), and contact angle measurements were used to characterize the monolayer.
使用时间飞行二次离子质谱仪(SIMS)（TOF-SIMS）、X射线光电子能谱仪（XPS）、原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对FTE自组装膜进行了表征。

Particle Analysis in Nuclear Safeguards and Secondary Ion Mass Spectrometer(SIMS)
核保障的微粒分析与二次离子质谱仪(SIMS)

The distribution of trace elements as Fe, Si, Cu, Mg, Mn and Zn in the surface layer was also determined by secondary ion mass spectrometer.
利用二次离子质谱仪(SIMS)检测了铝箔表面区Fe、Si、Cu、Mg、Mn、Zn等微量元素的分布。

The Secondary Ion Mass Spectrometer(SIMS) ( SIMS ), especially dynamic SIMS, is the most suitable instrument for particle isotopic analysis.
动态型二次离子质谱仪(SIMS)（SIMS）是进行微粒同位素分析最适用的测量仪器之一。

上述内容是“Secondary Ion Mass Spectrometer”作为“SIMS”的缩写，解释为“二次离子质谱仪”时的信息，以及英语缩略词SIMS所代表的英文单词，其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。